Inspectio radiographica automatica (AXI) est technologia quae in iisdem principiis ac inspectio optica automatica (AOI) nititur. Radios X ut fontem adhibet, loco lucis visibilis, ad res automatice inspiciendas, quae plerumque ab oculis occultantur.
Inspectio automatica radiorum X in ampla varietate industriarum et applicationum adhibetur, praesertim cum duobus propositis principalibus:
Optimizatio processus, id est, eventus inspectionis ad gradus processus sequentes optimizandos adhibentur,
Detectio anomaliae, id est eventus inspectionis, fungitur ut criterium ad partem reiiciendam (ad materiam detritam vel ad refectionem).
Quamquam AOI (Interfacies Obliquitatis) imprimis cum fabricatione electronicarum coniungitur (ob usum late diffusum in fabricatione PCB), AXI (Interfacies Obliquitatis) multo latiorem applicationum varietatem habet. A qualitate rotarum metallicarum probanda ad detectionem fragmentorum ossium in carne confecta extenditur. Ubicumque magna copia rerum simillimarum secundum normam definitam producitur, inspectio automatica utens programmate provecto ad imagines tractandas et exemplaria recognienda (Visionem Computatralem) instrumentum utile facta est ad qualitatem confirmandam et ad proventum in tractatione et fabricatione augendum.
Progressu programmatum imaginum tractandarum, numerus applicationum inspectionis radiographicae automaticae ingens est et perpetuo crescit. Primae applicationes in industriis coeperunt ubi aspectus salutis partium inspectionem diligentem cuiusque partis productae postulabat (e.g., suturae ferreae pro partibus metallicis in stationibus potentiae nuclearis) quia technologia initio, ut expectatum erat, pretiosa erat. Sed cum latiore adoptione technologiae, pretia significanter descenderunt et inspectionem radiographicam automaticam ad campum multo latiorem aperuerunt - partim iterum impulsae a aspectibus salutis (e.g., detectio metalli, vitri, vel aliarum materiarum in cibo confecto) vel ad augendum proventum et processum optimizandum (e.g., detectio magnitudinis et loci foraminum in caseo ad optimizandas formas sectionis).[4]
In productione magna rerum complexarum (e.g., in fabricatione electronicarum), detectio praecox vitiorum sumptum totalem vehementer reducere potest, quia impedit ne partes vitiosae in gradibus fabricationis subsequentibus adhibeantur. Hoc tria commoda maiora efficit: a) quam primum indicium praebet materias vitiosas esse vel parametros processus effrenatos esse, b) impedit ne valor additus sit componentibus iam vitiosis et ergo sumptum totalem vitii minuit, et c) probabilitatem vitiorum in campo producti finalis auget, quia vitium fortasse non detegitur in gradibus posterioribus inspectionis qualitatis vel per probationes functionales propter seriem limitatam exemplorum probationum.
Tempus publicationis: XXVIII Decembris MMXXI